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SAM 300 AUTO-WAFER PVA TEPLA AS
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SAM300 AW DISCUS : Microscope acoustique haute performance, automatique, transducteurs de 10 à 400 MHz, Dédié aux contrôles de tranches jusqu’à 300mm. Compatible salle blanche classe 100 (autres sur demande).

La série SAM300AW a été spécialement développée pour l’inspection automatique de tranches collées ou de MEMS afin de détecter dans un flux de production des défauts (vide, cavité, délamination, etc.). Les données collectées sont analysées et interprétées automatiquement puis exportées au format de la Fab.

Fort volume : Le chargement automatique et l’utilisation de plusieurs transducteurs garantis un volume de traitement élevé en phase avec les contraintes de production (temps d’inspection minimisé drastiquement).

Flexibilité : L’architecture du système permet une intégration simple et rapide dans l’environnement de production client (fonctions spécifiques).

Le SAM300 AW est la nouvelle référence de l’imagerie acoustique en production.

À PROPOS DE PVA TEPLA AS :
Fondée en 2010, PVA TePla Analytical Systems GmbH (anciennement SAMTEC) a rejoint le groupe PVA TEPLA en 2007.
PVA TePla Analytical Systems GmbH conçoit et fabrique des microscopes acoustiques à balayage.

La microscopie acoustique est une méthode d’imagerie et de caractérisation dédiée à l’inspection et au contrôle non destructif des matériaux. Cette technique utilise des ondes mécaniques ultrasonores à différentes fréquences (de quelques MHz à quelques GHz) pour reconstituer des images de la structure interne de matériaux, optiquement opaques, avec des résolutions d’image du millimètre au micromètre. Les applications sont nombreuses car cette méthode permet aussi bien de détecter des défauts (décollements, délaminations, fissures, zone de vide) dans des assemblages de matériaux multicouches, que de mesurer les propriétés mécaniques des matériaux mis en jeux (densité, élasticité, viscosité, porosité). La microscopie acoustique touche les domaines du contrôle de qualité et d’analyse de défaillance de tous les secteurs d’activité (microélectronique, aéronautique, spatial, automobile, ferroviaire, métallurgie, industries, etc.).

MB Electronique dispose, dans ses locaux, d’un laboratoire d’analyse et de diagnostic en contrôle non destructif (CND) par ultra-sons.
Doté de la toute dernière génération de microscope acoustique (SAM301 – PVA TEPLA), ce laboratoire, mis à votre disposition, est un superbe outil d’analyse non destructive, à fort débit.
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