| | | | Le système de tests de fiabilité (1164), solution de tests avancés pour l'industrie du semiconducteur, est basé sur une architecture parrallèle permettant de déployer massivement plusieurs tests simultanés (ou de façon sequentielle) à différentes températures (indépendantes).
Son architecture modulaire autorise des configurations diverses de tests en parèllele et reste évolutive (applications & capacité). La fonction monitoring temps réél assure une capture complète des comportements des DUTs.
Une large gamme de modules de mesures précis couvre la totalité des besoins du marché :
- Fort Courant EM (4A),
- EM et Stress de Migration sur Cu & Al,
- ILD cuivre & Barrière BTS,
- TDDB /SILC (Tension constante),
- TDDB Multi-Terminaux,
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