SPS5000 — Logiciel de test paramétrique pour semi-conducteurs

Logiciel de test paramétrique pour semi-conducteurs SPS5000 | Itech.

Le logiciel de test paramétrique pour semi-conducteurs SPS5000 d’ITECH est équipé de la source de mesure haute précision IT2800 | Itech. Il permet de réaliser rapidement le test paramétrique des semi-conducteurs pour la caractérisation IV des dispositifs. Le logiciel SPS5000 prend en charge les modes balayage DC, impulsion, unidirectionnel et bidirectionnel. Avec une interface graphique intuitive, il permet de réaliser facilement & rapidement les tests. Aucune connaissance en programmation n’est requise pour son utilisation. En effet, des éléments de test « prêts à l’emploi » pour différents types de dispositifs semi-conducteurs sont disponibles : MOSFET, BJT, diodes et résistances.

CARACTÉRISTIQUES :

• Interface graphique intuitive pour une configuration des mesures, la caractérisation I-V et l’analyse des données simplifiée.
• Éléments de test prêts à l’emploi pour les MOSFETs/BJTs/Diodes/Résistances pour un rappel rapide.
• Fonction de séquence de test automatisée pour l’exécution continue de tests de paramètres multiples pour les dispositifs.
• Traçage interactif des données en temps réel.
• Mode de test rapide pour effectuer jusqu’à 32 tests d’objets sous test simultanément.
• Base de données intégrée permettant à l’utilisateur de stocker et de rappeler rapidement les données et les graphiques.
• Outils d’analyse graphique puissants tels que la mise à l’échelle automatique et les opérations de ligne.
• Capacités d’axes Y multiples et type de paramètre et d’échelle configurables pour l’axe Y/axe X.
• Fonction de personnalisation des éléments de test.
• Logiciel compatible avec le système d’exploitation Windows 7 (ou supérieur).
• Support de test IT-E803 pour les diodes de faible puissance et les tests de Mosfet (42 V/1 A).
• Peut être utilisé avec la série IT2800 SMU, résolution minimale jusqu’à 100 nV/10fA.