Conseil d'ingénieur · Intégration sur mesure · SAV & hotline
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Fiabilité semi-conducteur
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Logiciel
Le logiciel de test paramétrique pilote le banc de caractérisation, exécute les séquences de mesure sur… -
Fiabilité en boitier (PLR) ou sur tranche (WLR)
Solutions de test de fiabilité en boîtier (PLR) ou sur tranche (WLR) Solutions destinées à la mesure, au…
Les essais de fiabilité des semi-conducteurs consistent à soumettre un composant à des contraintes accélérées — température, tension, courant — pour extrapoler sa durée de vie et identifier ses mécanismes de défaillance : électromigration (EM), injection de porteurs chauds (HCI), claquage d'oxyde par vieillissement (TDDB).
En savoir plus sur Fiabilité semi-conducteur
Notre offre couvre les testeurs de fiabilité pour ces mécanismes, les bancs de fiabilité en boîtier (PLR) ou sur tranche (WLR), et les logiciels de test paramétrique. Les équipements acceptent l'échantillon en boîtier comme sur tranche et couvrent des plages de 50 °C à 200 °C. Marques : STAr Technologies, Accel-RF et Itech.
Ces bancs sont toujours définis avec le client : technologie, mécanisme visé, nombre d'échantillons en parallèle. Contactez nos spécialistes pour cadrer votre plan d'essais.