PM8-WLR — Station de test sous pointes - Test de fiabilité sur tranches 200mm

Développé pour répondre aux besoins critiques des technologies 90nm et en dessous, utilisées par les fabricants de semiconducteur, la PM8WLR fournie des mesures de fiabilité de process sur la durée à des températures atteignant les 300 °C. Les sondes multi-contacts peuvent aisément être intégrées à la station pour réduire au minimum les temps de test. De ce fait, l’utilisateur dispose de plus de données de fiabilité pour une amélioration plus rapide du design et du « process » que lors de test de composants assemblés.

Autre avantage, les tests de fiabilité réalisés avant l’assemblage, sont un facteur significatif d’amélioration des coûts.