| | | | SAM302 HD² - PVA TEPLA - Microscope très haute performance, Transducteurs de 5 à 400 MHz.
Nos microscopes utilisent les ultrasons pour des inspections non-destructives à l’intérieur de la matière des différentes interfaces ou de la surface d’un substrat. L’image acoustique est analysée en profondeur pour détecter et dimensionner des caractéristiques et des défauts (fissures, vides, etc.).
La série SAM302 HD² est destinée à l'investigation non destructive, au contrôle de qualité et de processus ainsi qu’à la recherche avancée nécessitant une grande précision et une utilisation soutenue. Cette plateforme permet des investigations précises avec des transducteurs propriétaires jusqu'à 400MHz (précisions micrométriques).
Une interface g... |
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