SAM301 HD² — Microscope très haute performance - Transducteurs de 5 à 400 MHz

SAM301 HD² - PVA TEPLA - Microscope très haute performance, Transducteurs de 5 à 400 MHz.

Nos microscopes utilisent les ultrasons pour des inspections non-destructives à l’intérieur de la matière des différentes interfaces ou de la surface d’un substrat. L’image acoustique est analysée en profondeur pour détecter et dimensionner des caractéristiques et des défauts (fissures, vides, etc.).

La série SAM301 HD² est destinée à l’investigation non destructive, au contrôle de qualité et de processus ainsi qu’à la recherche avancée nécessitant une grande précision et une utilisation soutenue. Cette plateforme permet des investigations précises avec des transducteurs propriétaires jusqu’à 400 MHz (précisions micrométriques).

Une interface graphique avancée et intuitive, WinSAM, garantie un paramétrage simple et une prise en mains rapide pour un retour sur investissement optimal. WinSAM permet la mise en oeuvre de nombreuses méthodes de scan (A, B, P, C, X, G, D, Z, T, ROT, TS,etc.) et peut être complétée par des options logicielles avancées d’analyse et de traitement.

Le SAM301 HD² est construit sur une architecture performante commune à l’ensemble de la gamme. Il intègre les dernières technologies disponibles (HiSA, Dynamic Through Scan) et des nouveaux moteurs linéaires pour des essais précis à 50nm et rapides.

CARACTÉRISTIQUES :

• Zone de scan : 200x200µm à 320x320mm.
• Bande RF acoustique : 1 à 500 MHz.
• Chargement : manuel.
• Application : Laboratoire R&D.
• Résolution en X/Y : 50nm.