SAM CUSTOM — Microscope acoustique spécifique à une application

PVA TEPLA - Microscopie acoustique pour CND (contrôle non destructif)

Nous concevons et proposons, sur demande du client, des solutions spécifiques à une application en fonction de vos besoins (solution manuelle et / ou automatique).

Nos équipes commerciales et application se tiennent à votre disposition pour vous conseiller et définir votre besoin.

Pour plus d’information, veuillez nous consultez.