Sonde DCP-X — Sonde DC Ultra Haute Performance Paramétrique

Sonde DC Ultra Haute Performance Paramétrique - Sonde DCP-X | FORMFACTOR

La nouvelle sonde DCP-X est conçue pour les opérateurs qui ont besoin d’effectuer des mesures électriques sur wafers (IV, CV, LFN) avec une précision et une répétabilité maximale pour la caractérisation et la modélisation des composants, même sur des petits plots de contact, en mode manuel et automatique.

CARACTÉRISTIQUES :

• Quasi-Kelvin & Kelvin.
• Tension Claquage : >500 V.
• Resistance Isolation : > 1 x 1013 ohms.
• Fréquence réponse (3 dB) : 150 MHz.
• Gamme Température : -55 °C à 175 °C.
• Impedance caractéristique : 50 ohms.
• Materiel pointe : Rhodium.
• Type connecteur : SSMC.

AVANTAGES :

• Elimination des erreurs de mesures grâce au positionnement très précis et d’une résistance de contact ultra faible (1 à 5 milliohm).
• Réduction des dommages sur les plots de contacts grâce au petit scrub (7 µm) avec seulement 20 µm d’overdrive.
• Technologie de pointe MEMs adaptée à tous les matériaux et toutes les géométries de plots, sans déformation ni contamination de la pointe.
• Montage rapide et facile sur positionneurs manuels ou motorisés.
• Grande durée de vie avec >500 000 touchés (version Kelvin).
• Pas ou peu de nettoyage grâce au petit scrub sans dommages.
• Large plage d’utilisation en température de -55 °C à +175 °C.