VueTrack — Technologie - Ré-Alignement Automatique

Technologie pour les tests à multiples températures sans surveillance (sans intervention humaine) augmentant drastiquement la productivité de vos campagnes de mesure sur plaquettes.

Les technologies innovantes adressant les marchés actuels et futurs poussent les fabricants à réduire les dimensions des composants tout en amélioration leur fiabilité. Les fabricants de semi-conducteurs ont désormais besoin de collecter de plus en plus de données à de multiples températures et doivent faire face aux « dérives » physiques et mécaniques des pads vis à vis des pointes de contacts et de la stations de test sous pointes rendant complexes ces mesures. Ces défauts d’alignement doivent aujourd’hui être corrigés manuellement à chaque palier de température….soit de nombreux temps morts…et une productivité amoindrie ! La technologie VueTrack vous permettra de pallier à ces problématiques avec nos stations de tests sous pointes semi-automatiques et automatiques, maximisant votre productivité et votre retour sur investissement.

Cette technologie nécessite l’utilisation du microscope eVue III. Des accessoires complémentaires à haute stabilité thermique sont disponibles pour une efficacité totale. Ils vous aideront à optimiser encore un peu plus vos tests (support de carte à pointes, plateau haute stabilité, sondes DC paramétriques, etc.