Fiabilité EM HCI TDDB ... par MB Electronique
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Fiabilité EM HCI TDDB ...

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    Fiabilité EM HCI TDDB ...

    Une large gamme d'équipements, systèmes et accessoires destinés à la mesure, au test, au contrôle, au déverminage, au processus de fabrication et à la programmation des composants, des puces et des tranches (wafer) semi-conducteurs.
    Notre large gamme englobe: des systèmes de burn-in, des systèmes pour la fiabilité au niveau boitier (Electromigration, TDDB) et au niveau tranche (wafer), des systèmes basés sur la technologie plasma pour le contrôle du dosage « ion - implant », des solutions de mesure de stress mécanique sur wafer ainsi que des équipements de programmation de composants.

    Nos systèmes de test de semi-conducteurs fournissent des solutions aux laboratoires de recherche et de développement, à l’industrie des composants semi-conducteurs et à d'autres segments de l’industrie.

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