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SAM 400 — Microscope SAM haute performance - Transducteurs de 3 à 400 MHz

SAM400 SONUS : Microscope SAM haute performance, Transducteurs de 3 à 400 MHz.

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SAM400 SONUS : Microscope SAM haute performance, Transducteurs de 3 à 400 MHz.

Nos microscopes SAM utilisent les ultrasons pour des inspections non-destructives à l’intérieur de la matière des différentes interfaces ou de la surface d’un substrat. L’image acoustique est analysé en pour détecter et dimensionner des caractéristiques et des défauts (fissures, vides,etc.).

La série SAM400 est destinée à l’investigation non destructive, au contrôle de qualité et de processus ainsi qu’à la recherche avancée nécessitant une grande précision et une utilisation soutenue. Cette plateforme permet des investigations précises avec des transducteurs propriétaires jusqu’à 400 MHz (précisions micrométriques).

Une interface graphique avancée et intuitive, WinSAM, garantie un paramétrage simple et une prise en mains rapide pour un retour sur investissement optimal. WinSAM permet la mise en oeuvre de nombreuses méthodes de scan (A, B, P, C, X, G, D, Z, T, ROT, TS, etc.) et peut être complété par des options logicielles avancées d’analyse et de traitement.

Le SAM400 est construit sur une architecture commune à l’ensemble de la gamme. Il utilise les dernières technologies disponibles et des moteurs linéaires pour des tests précis d’échantillons (jusqu’à 420x420x45mm).

SAM 400

Fiche technique

Chargement
Manuel
Bande RF acoustique
1 à 500 MHz
Application
Laboratoire R&D
Zone de scan
200x200µm à 420x420mm

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