Les sondes DC Paramétriques ont été développées pour mettre en oeuvre des mesures extrêmement précises à très bas niveau (fA/fF) pour la caractérisation, la fiabilité et le suivi des processus de fabrication des semiconducteurs.

Elles assurent une continuité supérieure aussi bien du « Shield », connectée à la technologie Micro-Chambre® brevetée faisant entre autre office de cage de faraday, que de la « Garde » en connectivité triax de l’instrument de mesure jusqu’au dispositif sous pointes afin d’atteindre de très faible niveau de courant de fuite et de bruit. Leur conception a été améliorée afin de garantir des mesures optimales en température jusqu'à +300°C. La série DCP est disponible en version Kelvin et Quasi-Kelvin (point chaud pro...