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Le système d'imagerie numérique eVue III est un outil révolutionnaire de microscopie conçu et développé par Formfactor (anciennement Cascade Microtech), particulièrement optimisé pour la navigation sur tranches (wafers). Il améliore radicalement la précision des positionnements et surtout votre productivité avec nos stations de tests sous pointes.
Le système d’imagerie numérique eVue III est un outil révolutionnaire de microscopie conçu et développé par Formfactor (anciennement Cascade Microtech), particulièrement optimisé pour la navigation sur tranches (wafers). Il améliore radicalement la précision des positionnements et surtout votre productivité avec nos stations de tests sous pointes.
Associé à un logiciel d’imagerie avancée simple, intuitif et intégré dans l’environnement de navigation sur tranche, les utilisateurs peuvent désormais voir, contacter, et mesurer les dispositifs, facilement et rapidement, sans aucune comparaison possible avec les microscopes analogiques conventionnels.
En combinant l’eVue et ViewTrack, il est désormais possible de suivre les pointes et de corriger automatiquement, sans intervention humaine, les dérives des positionnements liées aux tests à températures multiples (réalignement automatique) améliorant ainsi grandement votre productivité et votre « Time-to-Correct-Data ».
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