| | | | Les systèmes brevetés Double Side Probe Systems (DSP) offrent des technologies de pointe pour les applications nécessitant un acces aux deux faces de la tranche( wafer). En coopération étroite avec les fournisseurs majeurs de microscopes à émission, Formfactor (anciennement Cascade Microtech) a développé des systèmes sans pareil pour localiser des défauts lors de la vérification de design ou pour l'analyse de défauts lorsque le composant sous test (DUT) présente plusieurs niveaux de métallisation, des boitiers "flip-chip" ou "lead-on-chip".
Taille de tranche (Wafer): = 200mm
À PROPOS DE FORMFACTOR (anciennement Cascade Microtech) :
Leader mondial pour la mesure électrique et le test sous pointes de dispositifs semi-conducteurs avancés - circuits intégrés (CI), puces, circuits imprimés, MEMS, 3D TSV, LED et plus encore.
FormFactor (anciennement Cascade Microtech) conçoit, développe et fabrique des solutions avancées de tests sous pointes sur plaquette (tranche) dédiées aux domaines de la caractérisation, de la modélisation, de la fiabilité ou encore de l’analyse de défaillance ; aussi bien
dans les environnements de test d'ingénierie que de production. Nos stations des tests et nos sondes sont utilisées dans la recherche et le développement pour effectuer des mesures électriques précises, ou une métrologie électrique, sur des puces de plus en plus complexes afin d'assurer la qualité et la fiabilité, de réduire les refontes coûteuses de conception, pour accélérer le délai de mise sur le marché et avant tout afin d’améliorer les processus de fabrication.
Les solutions complètes FormFactor (anciennement Cascade Microtech) garantissent la mise en œuvre de caractérisations avancées, du fempto-Ampère jusqu’à 10,5KV/400A, ou encore aux Théraherts ; associées à une très forte expertise applications. |
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