| | | | Les tests électriques pour l’analyse de défaillance, le «debug» de circuit intégré ou encore la caractérisation de structure simple ou avancée requièrent un contact au moyen de plusieurs aiguilles reliées à un instrument de mesure. La connexion est de nature coaxiale ou triaxiale pour atteindre de faible résolution de courant (< 100pA). Nos solutions vous permettront de caractériser tous vos dispositifs et supportent les nombreux challenges des différents environnements de «probing», tout en garantissant performance, robustesse et durabilité...excédant souvent les attentes du marché.
Large gamme de supports pour s’adapter à toutes les applications :
- Différents niveaux de flexibilité – En complément des réglages précis en XYZ liés au ... |
| | | |
| |
|
|
| |
|