NFPKit — Kit de sonde de mesure en champ proche

Kit de sonde de mesure en champ proche - NFPKit | YIC Technologies.

Le NFPKit (Near Field Probe Kit) de YIC est un outil innovant conçu pour optimiser les tests de compatibilité électromagnétique (CEM) et d’interférences électromagnétiques (EMI). Il permet aux ingénieurs et aux concepteurs de produits électroniques de détecter, mesurer et analyser précisément les sources de rayonnement électromagnétique en temps réel.

Grâce à sa conception robuste et à son accessibilité, il constitue une solution idéale pour les laboratoires, les centres de recherche et les services qualité des entreprises électroniques.

APPLICATIONS :

• Conception et validation de circuits imprimés (PCB).
• Tests sur équipements RF et sans fil.
• Recherche et développement en électronique.
• Dépannage et optimisation des systèmes embarqués.
• Analyse des interférences dans les environnements industriels.

AVANTAGES :

• Accessibilité : un excellent rapport qualité-prix, rendant l’analyse CEM & EMI accessible aux entreprises de toutes tailles.
• Compacité : Un format compact et portable, permettant des mesures sur site ou en laboratoire.
• Fiabilité et précision : Une solution de test CEM éprouvée garantissant des résultats reproductibles et précis.
• Facilité d’intégration et d’utilisation : Compatible avec la plupart des instruments de mesure ; ne nécessitant pas de formation avancée.
• Polyvalence : Adapté à de nombreuses applications industrielles et de recherches.

CARACTÉRISTIQUES :

• Plage de fréquences : 10 MHz à 18 GHz.
• Types de mesures - Sondes de champ magnétique (H) : HXY 10A02 : 10 MHz-300 MHz / HXY 20A02 : 100 MHz-1,4 GHz / HZ 40A02 : 1 GHz-14 GHz / HXY 60A01 : 1 GHz-13 GHz.
• Types de mesures - Sonde de champ électrique (E) : E 00A02 : 1,6 GHz – 18 GHz.
• Caméra USB mini de 5 MP avec objectif varifocal 5-50 mm et zoom optique 10x pour une visualisation précise lors des mesures.
• Bras de support ajustable de 11 pouces avec pince pour un positionnement stable et flexible des sondes.
• Intégration complète avec le logiciel EMViewer permettant l’accès à des fonctionnalités avancées telles que la normalisation et la correction des mesures, visualisation en temps réel, support multi-scanner, et outils d’analyse approfondie.

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